High-Throughput Detection of Induced Mutations and Natural Variation Using KeyPoint™ Technology

por Rigola, Diana, van Oeveren, Jan, Janssen, Antoine, Bonné, Anita, Schneiders, Harrie, van der Poel, Hein J. A., van Orsouw, Nathalie J., Hogers, René C. J., de Both, Michiel T. J., van Eijk, Michiel J. T.
Publicado 2009