High-Resolution Photoemission Study of Neutron-Induced Defects in Amorphous Hydrogenated Silicon Devices

por Peverini, Francesca, Bizzarri, Marco, Boscardin, Maurizio, Calcagnile, Lucio, Caprai, Mirco, Caricato, Anna Paola, Cirrone, Giuseppe Antonio Pablo, Crivellari, Michele, Cuttone, Giacomo, Dunand, Sylvain, Fanò, Livio, Gianfelici, Benedetta, Hammad, Omar, Ionica, Maria, Kanxheri, Keida, Large, Matthew, Maruccio, Giuseppe, Menichelli, Mauro, Monteduro, Anna Grazia, Moscatelli, Francesco, Morozzi, Arianna, Pallotta, Stefania, Papi, Andrea, Passeri, Daniele, Petasecca, Marco, Petringa, Giada, Pis, Igor, Quarta, Gianluca, Rizzato, Silvia, Rossi, Alessandro, Rossi, Giulia, Scorzoni, Andrea, Soncini, Cristian, Servoli, Leonello, Tacchi, Silvia, Talamonti, Cinzia, Verzellesi, Giovanni, Wyrsch, Nicolas, Zema, Nicola, Pedio, Maddalena
Publicado 2022