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    por Zhang, Qi, Ianno, Natale J., Han, Ming
    Publicado 2013
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    Fiber-Optic Refractometer Based on an Etched High-Q π-Phase-Shifted Fiber-Bragg-Grating
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    Precursor-surface interactions revealed during plasma-enhanced atomic layer deposition of metal oxide thin films by in-situ spectroscopic ellipsometry
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    Author Correction: Precursor-surface interactions revealed during plasma-enhanced atomic layer deposition of metal oxide thin films by in-situ spectroscopic ellipsometry
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