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1
Evaluation of ion/electron beam induced deposition for electrical connection using a modern focused ion beam system
por
An, Byeong-Seon
,
Kwon, Yena
,
Oh, Jin-Su
,
Shin, Yeon-Ju
,
Ju, Jae-seon
,
Yang, Cheol-Woong
Publicado 2019
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