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1
Slip Correction Measurements of Certified PSL Nanoparticles Using a Nanometer Differential Mobility Analyzer (Nano-DMA) for Knudsen Number From 0.5 to 83
por
Kim, Jung Hyeun
,
Mulholland, George W.
,
Kukuck, Scott R.
,
Pui, David Y. H.
Publicado 2005
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