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1
Effect of Oxygen Content on Current Stress-Induced Instability in Bottom-Gate Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors
por
Choi, Sungju
,
Kim, Jae-Young
,
Kang, Hara
,
Ko, Daehyun
,
Rhee, Jihyun
,
Choi, Sung-Jin
,
Kim, Dong Myong
,
Kim, Dae Hwan
Publicado 2019
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