Measurement of the across-plane conductivity of YSZ thin films on silicon

por Navickas, E., Gerstl, M., Friedbacher, G., Kubel, F., Fleig, J.
Publicado 2012

The grain and grain boundary impedance of sol–gel prepared thin layers of yttria stabilized zirconia (YSZ)

por Gerstl, M., Navickas, E., Leitgeb, M., Friedbacher, G., Kubel, F., Fleig, J.
Publicado 2012

The separation of grain and grain boundary impedance in thin yttria stabilized zirconia (YSZ) layers

por Gerstl, M., Navickas, E., Friedbacher, G., Kubel, F., Ahrens, M., Fleig, J.
Publicado 2011