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Lin, Hongzhe
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1
Temperature Impacts on Endurance and Read Disturbs in Charge-Trap 3D NAND Flash Memories
por
Chen, Fei
,
Chen, Bo
,
Lin, Hongzhe
,
Kong, Yachen
,
Liu, Xin
,
Zhan, Xuepeng
,
Chen, Jiezhi
Publicado 2021
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