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Nishio, Shumpei
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Título
1
Optical nano artifact metrics using silicon random nanostructures
por
Matsumoto, Tsutomu
,
Yoshida, Naoki
,
Nishio, Shumpei
,
Hoga, Morihisa
,
Ohyagi, Yasuyuki
,
Tate, Naoya
,
Naruse, Makoto
Publicado 2016
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