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Oho, Eisaku
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1
Applying Fast Scanning Method Coupled with Digital Image Processing Technology as Standard Acquisition Mode for Scanning Electron Microscopy
por
Oho, Eisaku
,
Suzuki, Kazuhiko
,
Yamazaki, Sadao
Publicado 2020
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Highly Reliable Method to Obtain a Correlation Coefficient Unaffected by the SEM Noise Component for Examining the Degree of Specimen Damage due to Electron Beam Irradiation
por
Oho, Eisaku
,
Suzuki, Kazuhiko
,
Yamazaki, Sadao
Publicado 2021
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3
Technology for Fundamental Improvement of an Extremely Low-Quality Video Signal for Use in Fine Focusing and Astigmatism Correction in Scanning Electron Microscopy
por
Oho, Eisaku
,
Yamazaki, Sadao
,
Suzuki, Kazuhiko
Publicado 2023
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