Mostrando 1 - 2 Resultados de 2 Para Buscar 'Pöller, Franziska', tiempo de consulta: 0.04s Limitar resultados
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    Extension and Limits of Depolarization-Fringe Contrast Roughness Method in Sub-Micron Domain
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    Non-Contact Roughness Measurement in Sub-Micron Range by Considering Depolarization Effects
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