Mostrando 1 - 2 Resultados de 2 Para Buscar 'Rajagopalan, Jagannathan', tiempo de consulta: 0.01s Limitar resultados
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    Electron Beam Induced Artifacts During in situ TEM Deformation of Nanostructured Metals
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    Revealing anelasticity and structural rearrangements in nanoscale metallic glass films using in situ TEM diffraction
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