Measurement of local resolution in electron tomography

por Vilas, J.L., Oton, J., Messaoudi, C., Melero, R., Conesa, P., Ramirez-Aportela, E., Mota, J., Martinez, M., Jimenez, A., Marabini, R., Carazo, J.M., Vargas, J., Sorzano, C.O.S.
Publicado 2019

Flexible workflows for on-the-fly electron-microscopy single-particle image processing using Scipion

por Maluenda, D., Majtner, T., Horvath, P., Vilas, J. L., Jiménez-Moreno, A., Mota, J., Ramírez-Aportela, E., Sánchez-García, R., Conesa, P., del Caño, L., Rancel, Y., Fonseca, Y., Martínez, M., Sharov, G., García, C.A., Strelak, D., Melero, R., Marabini, R., Carazo, J. M., Sorzano, C. O. S.
Publicado 2019

Using Scipion for stream image processing at Cryo-EM facilities

por Gómez-Blanco, J., de la Rosa-Trevín, J.M., Marabini, R., del Cano, L., Jiménez, A., Martínez, M., Melero, R., Majtner, T., Maluenda, D., Mota, J., Rancel, Y., Ramírez-Aportela, E, Vilas, J.L., Carroni, M., Fleischmann, S., Lindahl, E., Ashton, A.W., Basham, M., Clare, D.K., Savage, K., Siebert, C.A., Sharov, G.G., Sorzano, C.O.S., Conesa, P., Carazo, J.M.
Publicado 2018

On bias, variance, overfitting, gold standard and consensus in single-particle analysis by cryo-electron microscopy

por Sorzano, C. O. S., Jiménez-Moreno, A., Maluenda, D., Martínez, M., Ramírez-Aportela, E., Krieger, J., Melero, R., Cuervo, A., Conesa, J., Filipovic, J., Conesa, P., del Caño, L., Fonseca, Y. C., Jiménez-de la Morena, J., Losana, P., Sánchez-García, R., Strelak, D., Fernández-Giménez, E., de Isidro-Gómez, F. P., Herreros, D., Vilas, J. L., Marabini, R., Carazo, J. M.
Publicado 2022