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Richert, Damien
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1
Progress in Traceable Nanoscale Capacitance Measurements Using Scanning Microwave Microscopy
por
Piquemal, François
,
Morán-Meza, José
,
Delvallée, Alexandra
,
Richert, Damien
,
Kaja, Khaled
Publicado 2021
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2
Traceable Nanoscale Measurements of High Dielectric Constant by Scanning Microwave Microscopy
por
Richert, Damien
,
Morán-Meza, José
,
Kaja, Khaled
,
Delvallée, Alexandra
,
Allal, Djamel
,
Gautier, Brice
,
Piquemal, François
Publicado 2021
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