Flexible workflows for on-the-fly electron-microscopy single-particle image processing using Scipion

por Maluenda, D., Majtner, T., Horvath, P., Vilas, J. L., Jiménez-Moreno, A., Mota, J., Ramírez-Aportela, E., Sánchez-García, R., Conesa, P., del Caño, L., Rancel, Y., Fonseca, Y., Martínez, M., Sharov, G., García, C.A., Strelak, D., Melero, R., Marabini, R., Carazo, J. M., Sorzano, C. O. S.
Publicado 2019

On bias, variance, overfitting, gold standard and consensus in single-particle analysis by cryo-electron microscopy

por Sorzano, C. O. S., Jiménez-Moreno, A., Maluenda, D., Martínez, M., Ramírez-Aportela, E., Krieger, J., Melero, R., Cuervo, A., Conesa, J., Filipovic, J., Conesa, P., del Caño, L., Fonseca, Y. C., Jiménez-de la Morena, J., Losana, P., Sánchez-García, R., Strelak, D., Fernández-Giménez, E., de Isidro-Gómez, F. P., Herreros, D., Vilas, J. L., Marabini, R., Carazo, J. M.
Publicado 2022