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Shin, Hee Ju
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1
Quad-Level Cell Switching with Excellent Reliability in TiN/AlOx:Ti/TaOx/TiN Memory Device
por
Shin, Hee Ju
,
Seo, Hyun Kyu
,
Lee, Su Yeon
,
Park, Minsoo
,
Park, Seong-Geon
,
Yang, Min Kyu
Publicado 2022
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