Mostrando 1 - 2 Resultados de 2 Para Buscar 'Shin, Yeon-Ju', tiempo de consulta: 0.02s Limitar resultados
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    Method of Ga removal from a specimen on a microelectromechanical system-based chip for in-situ transmission electron microscopy
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    Evaluation of ion/electron beam induced deposition for electrical connection using a modern focused ion beam system
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