Elsevier's dictionary of microelectronics in five languages: English, German, French, Spanish and Japanese

por Nagy, P A, Tarján, D
Publicado 1988

Test of the ALICE DDL: Test setups and Test of ALICE DDL Integration to ALICE TPC test system

por Csató, P, Dénes, E, Sulyán, J, Rubin, G, Tarján, D, Vissy, B
Publicado 1998

The ALICE detector data link

por Rubin, G, Van de Vyvre, P, Csató, P, Dénes, E, Kiss, T, Meggyesi, Z, Sulyán, J, Vesztergombi, G, Eged, B, Gerencsér, I, Novák, I, Soós, C, Tarján, D, Telegdy, A, Tóth, N
Publicado 1999

The ALICE DAQ: Current Status and Future Challenges

por Röhrich, D, Jovanovic, P, Villalobos Baillie, O, Dénes, E, Eged, B, Sulyán, J, Kiss, T, Meggyesi, Z, Soos, C, Vissy, B, Tarján, D, Tóth, N, Novák, I, Csató, P, Rubin, G, Arregui, M, Carena, W, Chapeland, S, Divià, R, Schossmaier, K, Van de Vyvre, P, Vascotto, Alessandro, Stock, Reinhard, Rademakers, F, Lindenstruth, V, Skaali, B
Publicado 2000