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1
Structural Insights of Electrical Aging in PZT Thin Films as Revealed by In Situ Biasing X-ray Diffraction
por
Nguyen, Kien
,
Bellec, Ewen
,
Zatterin, Edoardo
,
Le Rhun, Gwenael
,
Gergaud, Patrice
,
Vaxelaire, Nicolas
Publicado 2021
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