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1Time Dependent Dielectric Breakdown in Copper Low-k Interconnects: Mechanisms and Reliability Modelspor Wong, Terence K.S.
Publicado 2012
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3por Tsang, Willis S.S., Tong, Michael C.F., Ku, Peter K.M., Bhatia, Kunwar S.S., Yu, Joannie K.Y., Wong, Terence K.C., van Hasselt, C. Andrew
Publicado 2016
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