Nanofocusing of X-ray free-electron laser using wavefront-corrected multilayer focusing mirrors

por Matsuyama, S., Inoue, T., Yamada, J., Kim, J., Yumoto, H., Inubushi, Y., Osaka, T., Inoue, I., Koyama, T., Tono, K., Ohashi, H., Yabashi, M., Ishikawa, T., Yamauchi, K.
Publicado 2018

RISING beamline (BL28XU) for rechargeable battery analysis

por Tanida, H., Fukuda, K., Murayama, H., Orikasa, Y., Arai, H., Uchimoto, Y., Matsubara, E., Uruga, T., Takeshita, K., Takahashi, S., Sano, M., Aoyagi, H., Watanabe, A., Nariyama, N., Ohashi, H., Yumoto, H., Koyama, T., Senba, Y., Takeuchi, T., Furukawa, Y., Ohata, T., Matsushita, T., Ishizawa, Y., Kudo, T., Kimura, H., Yamazaki, H., Tanaka, T., Bizen, T., Seike, T., Goto, S., Ohno, H., Takata, M., Kitamura, H., Ishikawa, T., Ohta, T., Ogumi, Z.
Publicado 2014