Spectroscopic Properties of Si-nc in SiO(x) Films Using HFCVD

por Hernández Simón, Zaira Jocelyn, Luna López, Jose Alberto, de la Luz, Alvaro David Hernández, Pérez García, Sergio Alfonso, Benítez Lara, Alfredo, García Salgado, Godofredo, Carrillo López, Jesus, Mendoza Conde, Gabriel Omar, Martínez Hernández, Hayde Patricia
Publicado 2020