Camino crítico en arquitectura : métodos CPM y PERT

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Méndez Chamorro, Francisco (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Materias:
Análisis de ruta crítica
Arquitectura > Procesamiento electrónico de datos
Descripción
Notas:Bibliografía: p. 103
Descripción Física:103 páginas : ilustraciones ; 27 cm.
ISBN:9682429161

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