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Métricas y técnicas para medir el sofware/
Autor principal: | |
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Formato: | Tesis Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Xalapa, Ver., :
[s.n.],
2004.
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Materias: |
Descripción Física: | 101 p. : il.; 22 cm. |
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Formato: | Tesis Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Xalapa, Ver., :
[s.n.],
2004.
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Materias: |
Descripción Física: | 101 p. : il.; 22 cm. |
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