Applied logistic regression /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W.
Otros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Wiley, c2000.
Edición:2nd ed.
Colección:Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
Materias:
Análisis de regresión
Acceso en línea:Table of Contents
Descripción
Notas:"A Wiley-Interscience publication."
Descripción Física:xii, 373 p. : il. ; 25 cm.
Bibliografía:Bibliografía: p. 352-365.
ISBN:0471356328

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