Applied logistic regression /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W.
Otros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Wiley, c2000.
Edición:2nd ed.
Colección:Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
Materias:
Análisis de regresión
Acceso en línea:Table of Contents

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