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DNA damage recognition /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Siede, Wolfram, Kow, Yoke Wah, Doetsch, Paul W.
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Taylor & Francis, 2006.
Materias:

MARC

LEADER 00000cam a22000002a 4500
001 ocm60644864
003 OCoLC
005 20141204200630.0
008 080901s2005 nyua b 001 0 eng d
035 |a (Sirsi) i9780824759612 
040 |a DNLM/DLC  |c DLC  |d UV# 
020 |a 0824759613 (pasta dura) 
020 |a 9780824759612 (pasta dura) 
050 0 4 |a QH467  |b D62 
082 0 0 |a 572.8/6  |2 22 
245 0 0 |a DNA damage recognition /  |c [edited by] Wolfram Siede, Yoke Wah Kow, Paul W. Doetsch. 
260 |a New York :  |b Taylor & Francis,  |c 2006. 
300 |a xxii, 845 p. :  |b il. ;  |c 26 cm. 
504 |a Incluye bibliografías e índice. 
650 4 |a DNA repair. 
700 1 |a Siede, Wolfram. 
700 1 |a Kow, Yoke Wah. 
700 1 |a Doetsch, Paul W. 
901 |a Z0  |b UV# 
902 |a DGBUV 
596 |a 13 57 
942 |c LIBRO 
999 |c 217196  |d 217196