Cargando…
Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
Autor principal: | |
---|---|
Otros Autores: | |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | Spanish |
Publicado: |
México, D.F.:
UNAM, Facultad de Química,
2006.
|
Edición: | 1a. ed. |
Materias: |
Descripción Física: | 97 p.: il ; 23 cm. |
---|---|
Bibliografía: | Incluye bibliografía (p. 95-96) e índice. |
ISBN: | 9703240119 |