Noise in semiconductor devices : modeling and simulation /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bonani, Fabrizio, 1967-
Otros Autores: Ghione, Giovanni, 1956-
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Berlin; New York : Springer, c2001.
Colección:Springer series in advanced microelectronics, 7
Materias:
Ruido electrónico > Modelos matemáticos.
Circuitos integrados > Métodos de simulación.
Acceso en línea:Publisher description
Table of contents only

MARC

LEADER 00000cam a22000002a 4500
001 ocm47126849
003 OCoLC
005 20141204201140.0
008 100727s2001 gw a b 001 0 eng d
010 |a  2001042017 
035 |a (Sirsi) i9783540665830 
040 |a DLC  |c DLC  |d UV# 
020 |a 3540665838 (alk. paper) 
020 |a 9783540665830 (alk. paper) 
050 4 |a TK7867.5  |b B65 2001 
082 0 0 |a 621.3815/2  |2 21 
100 1 |a Bonani, Fabrizio,  |d 1967- 
245 1 0 |a Noise in semiconductor devices :  |b modeling and simulation /  |c Fabrizio Bonani, Giovanni Ghione. 
260 |a Berlin;  |a New York :  |b Springer,  |c c2001. 
300 |a xxxi, 213 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
490 0 0 |a Springer series in advanced microelectronics,  |x 1437-0387 ;  |v 7 
504 |a Bibliografía: p. [201]-208. 
650 4 |a Ruido electrónico  |x Modelos matemáticos. 
650 4 |a Circuitos integrados  |x Métodos de simulación. 
700 1 |a Ghione, Giovanni,  |d 1956- 
856 4 2 |3 Publisher description  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0815/2001042017-d.html 
856 4 1 |3 Table of contents only  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0815/2001042017-t.html 
901 |a Z0  |b UV# 
596 |a 39 
942 |c LIBRO 
999 |c 235076  |d 235076 

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