Microelectronic failure analysis : desk reference /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Lee, Thomas W., editor, Pabbisetty, Seshu V., editor
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Materials Park, OH : ASM International, c1995.
Edición:3rd ed.
Materias:
Electrónica > Aparatos e instrumentos > Manuales.
Microelectrónica > Materiales > Manuales.
Semiconductores > Manuales de laboratorio

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