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La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ovejero Bernal, Anastasio (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Madrid, España : Biblioteca Nueva, 2003.
Colección:Colección Psicología universidad
Materias:
Descripción
Descripción Física:317 páginas ; 24 cm.
Bibliografía:Bibliografía: páginas 295-317.
ISBN:9788497421058
8497421051