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La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico /
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | Spanish |
Publicado: |
Madrid, España :
Biblioteca Nueva,
2003.
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Colección: | Colección Psicología universidad
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Materias: |
Descripción Física: | 317 páginas ; 24 cm. |
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Bibliografía: | Bibliografía: páginas 295-317. |
ISBN: | 9788497421058 8497421051 |