Cargando…

Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties, and Superconductor Critical-Current Testing

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ekin, Jack W
Lenguaje:eng
Publicado: Oxford Univ. Press 2006
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780198570547.001.0001
http://cds.cern.ch/record/1016440

Ejemplares similares