Cargando…

Impact of 24-GeV proton irradiation on 0.13-mu-m CMOS devices

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Gerardin, S
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1109/TNS.2006.880943
http://cds.cern.ch/record/1035605

Ejemplares similares