TCT characterization of different semiconductor materials for particle detection

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fink, J
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2006.05.003
http://cds.cern.ch/record/1035628
Descripción
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