Cargando…
VLSI testing
Autor principal: | Williams, T W |
---|---|
Lenguaje: | eng |
Publicado: |
North-Holland
1986
|
Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/107700 |
Ejemplares similares
-
Contactless VLSI measurement and testing techniques
por: Sayil, Selahattin
Publicado: (2017) -
VLSI and computer architecture: VLSI electronics microstructure science
por: Shankar, Ravi, et al.
Publicado: (1989) -
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
por: Wang, Laung-Terng, et al.
Publicado: (2006) -
VLSI technology
por: Sze, S M
Publicado: (1983) -
VLSI handbook
por: Einspruch, Norman G
Publicado: (1985)