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The influence of electron screening on half-lifes

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ruprecht, G, Buchmann, L, Hutcheon, D A, Ottewell, D F, Ruiz, C, Walden, P, Vockenhuber, C, Czerski, K
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1099562