International Conference on Electron Microscopy and Multisclae Modeling

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Avilov, Anatoly S, Dudarev, Sergei L, Marks, Laurence D
Lenguaje:eng
Publicado: AIP 2007
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1103534

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