Defects in ZnO, CdTe, and Si: Optical, structural, and electrical characterization

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Deicher, M, Bollmann, J, Gerten, R, Henry, M, Kronenberg, J, Al-Qaradawi, I, Johnston, K, Peaker, A R, Thewalt, M, Türker, M, Wichert, Th, Wolf, H
Publicado: 2009
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1156128
Descripción
Descripción no disponible.

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