Semi-automatic analysis of electron micrographs and diffraction patterns

Detalles Bibliográficos
Autores principales: English, C Q, Titchmarsh, J M
Lenguaje:eng
Publicado: 1980
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/124213
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares