Statistical regression with measurement error

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cheng, Chi-Lun, Van Ness, John W
Lenguaje:eng
Publicado: John Wiley & Sons 1999
Materias:
Mathematical Physics and Mathematics
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1349023
Descripción
Descripción no disponible.

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