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Radiation effects in advanced semiconductor materials and devices

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Claeys, C, Simoen, E
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2002
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-04974-7
http://cds.cern.ch/record/1418841