Effects of radiation on MOS structures and silicon devices

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bräunig, D, Fahrner, W R
Lenguaje:eng
Publicado: Hahn-Meitner-Inst. Kernforsch. 1983
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/148433
Descripción
Descripción no disponible.

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