On the cutting edge of semiconductor sensors. Toward intelligent x-ray detectors

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bosma, Marten J
Lenguaje:eng
Publicado: 2012
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1499992
Descripción
Descripción no disponible.

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