Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bardell, Paul H, McAnney, William H, Savir, Jacob
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 1987
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1555245
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares