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Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
Autores principales: | Bardell, Paul H, McAnney, William H, Savir, Jacob |
---|---|
Lenguaje: | eng |
Publicado: |
Wiley
1987
|
Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/1555245 |
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