Point defects in semiconductors

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bourgoin, Jacques, Lannoo, Michel
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1983
Materias:
Chemical Physics and Chemistry
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-81832-5
http://cds.cern.ch/record/1624603
Descripción
Descripción no disponible.

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