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Analytical electron microscopy for materials science
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
Springer
2002
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://dx.doi.org/10.1007/978-4-431-66988-3 http://cds.cern.ch/record/1625095 |