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Dry etching for VLSI

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Roosmalen, A J, Baggerman, J A G, Brader, S J H
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1991
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-2566-4
http://cds.cern.ch/record/1627996