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Scanning tunneling microscopy

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Neddermeyer, H
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1993
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1812-5
http://cds.cern.ch/record/1629053

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