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Reliability studies of planar silicon detectors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gössling, C, Heijne, Erik H M, Jarron, Pierre, Parker, H A, Redaelli, N G, Rossi, L
Lenguaje:eng
Publicado: 1985
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/163564

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